15.12.2025 13:00
Comet Yxlon X 射线半导体检测解决方案。
速度、分辨率、2D 或 3D - 根据不同的应用，制造商在检测半导体产品时有不同的优先级。Comet Yxlon 可根据具体检测任务提供各种 X 射线和 CT 检测系统。
2D 射线检查
- 快速生成图像，是过程中检测的理想选择
- 主要应用：传统封装
- 检测简单的接线、通孔和焊接凸点
- 可与 Cheetah 和 Cougar 配合使用 - 在最短时间内生成最佳图像，分辨率达到亚微米级
计算机层析（CL）
- 确定元件的空间特性以及缺陷的位置和大小
- 主要应用：高级包装
- 多层封装和集成设备的取样检测
- 可用于具有垂直光束路径和最高分辨率的 Cheetah 和 Cougar 系统，以及具有水平光束路径的 FF20 CT 和 FF35 CT 系统
三维计算机断层扫描 (CT)
- 三维测量可确定空间属性、缺陷位置和尺寸
- 主要应用：详细缺陷分析
- 可与 FF20 CT 和 FF35 CT 系统一起使用，通过 Geminy 用户界面实现直观操作，也可作为 Cheetah 和 Cougar 的附加组件使用
- CT 计量
类别
我们提供
国家
德国