GIE Media的圆桌会议 "今天的计量 "与Yxlon的Dirk Stei合作

Dirk Steiner, Yxlon的业务发展经理，自2004年以来一直深入参与工业计算机断层扫描，并且已经扫描和分析了超过1000个数据集。在此，您有机会观看由GIE Media举办的 "今日计量现场 "网络研讨会的录音，并听取如何利用计算机断层扫描技术可靠地解决苛刻的计量任务。

Dirk谈到了使用工业计算机断层扫描（CT）的计量学的最新趋势，以及数据是如何获得制造商提高效率和降低成本所需信息的关键。对制造商来说，最重要的是其产品的高质量。在 "圆桌会议 "上，五位与会者讨论了他们的解决方案如何能帮助生产商实现这一目标。然而，测量和分析内部结构只有通过CT才能实现。

在回答提出的一个问题时，Dirk说："CT是一种非接触式的方法，因此我们不会在过程中改变几何形状。我们可以看到内部结构，随着今天增材制造的大趋势，你可以设计和打印的东西没有限制。有了CT，我们可以看到内部，并测量那些被压在下面或甚至隐藏在零件里面的东西。此外，我们还可以从缺陷、内部缺陷中获得数据，这些缺陷本身与计量学没有关系。所以我们是一石二鸟"。

Comet Yxlon GmbH

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