蔡司 O-INSPECT 二重奏

显微镜和测量仪合二为一

蔡司 O-INSPECT duo 在一台机器中提供了两种技术：既可以对印刷电路板、燃料电池或电池等大型工件进行计量检测，也可以在不切割的情况下进行高分辨率检测。三维测量技术与显微检测的结合提高了效率，节省了质量实验室的空间。

蔡司 O-INSPECT duo 有 8/6/3 尺寸可供选择。

二合一：显微镜和测量设备合二为一
快速精确的三维测量 - 光学和触觉
带附加检测软件的高分辨率光学系统 ZEISS ZEN core

蔡司首款多技术系统作为测量显微镜，蔡司 O-INSPECT duo 涵盖了质量保证的两个重要应用领域：对大型或众多小型部件进行精确测量和高分辨率检测。该设备还专门针对需要结合三维测量和检测的应用而开发，包括对彩色图像进行分割、拼接和图像处理。质量实验室现在只需一台设备，而不再需要测量设备和显微镜，从而节省了空间和系统成本。了解多功能设备在相关领域的其他优势。

MESSTECHNIK高精度测量 - 触觉和光学测量平面和敏感工件的高精度测量蔡司 O-INSPECT duo 是一款多传感器测量设备，其高分辨率光学系统与蔡司 VAST XXT 触觉扫描传感器搭配使用，给人留下了深刻印象。触觉传感器可在一次移动中捕捉大量测量点，从而实现快速、精确的三维测量。

使用蔡司 O-INSPECT duo 可以在不接触的情况下测量敏感元件--由于采用了蔡司 VAST 探测 (ZVP)，测量精度极高，测量时间大大缩短。

得益于超大工作距离下的高分辨率，这不仅适用于平面工件或样品。在一台机器上进行表面检测和测量今天的坐标测量机，明天的显微镜许多工件除了需要进行尺寸、形状和位置检测外，还需要进行表面检测。以前，测量和检测需要使用两台独立的设备，而现在，蔡司 O-INSPECT duo 提供了二合一解决方案。凭借该设备的直观操作和带 12 倍变焦镜头的高分辨率 500 万像素 Discovery.V12 scout 160 c 彩色摄像传感器，检测任务现在也可以在测量设备上进行映射。除了通常与蔡司 CALYPSO 一起使用外，该设备还可与蔡司 ZEN 核心软件一起用于显微镜任务。

Carl Zeiss IQS Deutschland GmbH

蔡司 O-INSPECT 二重奏

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